Сбор средств 15 Сентября 2024 – 1 Октября 2024 О сборе средств

Advances in X-Ray Analysis: Volume 30

Advances in X-Ray Analysis: Volume 30

Donald E. Leyden (auth.), Charles S. Barrett, John V. Gilfrich, Ron Jenkins, Donald E. Leyden, John C. Russ, Paul K. Predecki (eds.)
0 / 0
0 comments
Насколько вам понравилась эта книга?
Какого качества скаченный файл?
Скачайте книгу, чтобы оценить ее качество
Какого качества скаченные файлы?
Категории:
Engineering
Год:
1987
Издательство:
Springer US
Язык:
english
Страницы:
591
ISBN 10:
1461319358
ISBN 13:
9781461319351
Файл:
PDF, 31.50 MB
IPFS:
CID , CID Blake2b
english, 1987
Скачать (pdf, 31.50 MB)
  • Checking other formats...
    • Разблокируйте конвертирование файлов размером более 8 МБPremium
    Выполняется конвертация в
    Конвертация в не удалась

    Ключевые слова

     
    ray
    analysis
    sample
    xrf
    intensity
    figure
    diffraction
    method
    samples
    element
    radiation
    temperature
    detector
    shown
    measured
    obtained
    standard
    analytical
    angle
    rays
    parameters
    materials
    absorption
    peak
    surface
    xrd
    range
    specimen
    fluorescence
    stress
    values
    standards
    measurement
    background
    calculated
    intensities
    safety
    tube
    laboratory
    matrix
    techniques
    spectrometer
    powder
    measurements
    methods
    wavelength
    accuracy
    effects
    experimental
    quantitative
    composition
    determined
    crystal
    function
    shows
    fundamental
    determination
    spectra
    atomic
    correction